平板探测器是医用DR设备的一个核心部件，它的性能很大程度上决定图像质量的好坏。如今市面上平板探测器的品牌和型号众多，而在挑选dr平板探测器时应该关注哪些参数呢?下面这些dr平探测器的主要参数，是你应该要知晓的。
一、首先要关注的是参数是像素尺寸，它是指成像有效区域长与像素数之比，或表示为相邻像素的中心距离。像素尺寸又包括以下几个细分项：
(1)分辨率：两个邻细节间最小距离的分辨能力。
(2)系统分辨率：在无被检工件的情况下，当透照几何放大倍数接近于1时，检测系统所能分辨的单位长度上两个相邻细节间最小距离能力。反映了检测系统本身的特性，也称为 系统基空间分辨率。
(3)图像分辨率：检测系统所能分辨的被检工件图像中单位长度上两个相邻细节间最小距离的能力，也被称为空间分辨率。
(4)极限分辨率：在无理(几何)放大的条件下，检测系统的大分辨率。
像素尺寸太小，会增加图像噪声;像素尺寸太大，降低图像分辨率。所以在选择探测器像素尺寸时要根据具体的检测需求选择，不能过分追求小像素尺寸的探测器。
目前市面上有一款型号为PLX8600的平板动态DR，它配备的就是17″×34″的大尺寸平板探测器。相较于多张拍摄再软件拼接的DR设备，PLX8600解决了拼接图像存在度不均匀，拼接处图像配准和放大效应等问题，给临床带来了真正的大视野像解决方案，高清画质，精准成像不失真，可一次性覆盖全脊柱或双下肢影像。
除此之外，PLX8600平板动态DR的摄影速度快，且单次摄影辐射剂量是常规多张摄影再软件拼接DR的1/2或1/3，低剂量给者更多关爱。
二、其次要明确dr平板探测器的闪烁体类型，目前工业上常见的非晶硅闪烁体涂层材料有两种碘化铯、硫氧化钆。
碘化铯将X线转换成可见光的能力比硫氧化钆强但成本比较高;将碘化铯加工成柱状结构，可以进一步提高捕获X线的能力，并减少散射光。使用硫氧化钆做涂层的探测器成像速度快，性能稳定，成本较低，但是转换效率不如碘化铯涂层高。
三、然后是dr平板探测器的动态范围，它是指探测器可以精确测量射线强的范围。
动态范围计算公式：D=Vs/Vn 动态范围用分贝表示公式：D=20lg(Vs/Vn) D探测器动态范围 Vs探测器输出最大信 Vn电子噪声 动态范围越大，说明在被检工件厚薄差异较大的情况下仍然能够得到良好的对比度灵敏度。
四、灵敏度：探测器输出可检测信号时需要的最少输入信号强度。
非晶硅探测器的灵敏度由四个方面的因素决定：X射线吸收率，X射线-可见光转换系数，填充系数和光电二极管可见光-电子转换系数。 通常用X射线灵敏度S表示。 如可标注某探测器X射线灵敏度S为：S～1000e-/nGy/pel DN-5 Beam 表示该探测器在标准DN-5 X射线每nGy在单个像素上产生的电荷数为1000个。 由于X射线灵敏度S与线质有关通常同时给出线质标准如：DN-5 Beam 探测器灵敏度精度越高越好，好的探测器灵敏度能达到1个光子。
五、调制传递函数MTF：为探测器对比度空间频率转移函数，通常用来表示探测器对于图像细节的分辨能力。
从理论上讲探测器MTF越高越能真实地获得图像信息，完美的探测器MTF应为与空间频率无关的水平直线，但实际由于采样效应的存在，这种观点并不完全正确，这一点在关于探测器伪影及噪声的分析中将得到体现。由此可见探测器的MTF值并非越高越好，如何选择适当的MTF分布是在探测器分析中需要仔细考虑的问题。
六、量子探测效率DQE：定义为输出信噪比的平方与入信噪比的平方之比通常用百分数来表示。
探测器的DQE定义式如下： DQE= (Sout/Nout) /(Sin/Nin) 大致上可以这么认为：当系统DQE较高时，可以用较低的剂量获得相同的图像质量;或者用相同的剂量获得较高的图像质量。随着数字图像后处理技术的发展人们已经以通 过 适当的算法来提升图像的对比度及边缘锐利程度，从而达到改善图像效果的目的。但却不能改善制约成像质量的另外两个因素：噪声(特别是进入图像信号频域的噪声)及伪影。 这 两者更多的取决于图像系统探测器本身。
七、其他特性：
噪声：非输入信号造成的输出信号噪声的主要来源：探测器的电子噪声、射线图量子噪声。
信噪比：探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比，用SNR表示。信比越高，图像质量好。
归一化信噪比：比较不同探测器的信噪比，必须在同样的探测器单元尺寸下进行。计算公式：SNRn=SNRm×88.6/P SNRn归一化信噪比，SNRm测量信噪比，P探测器像素尺寸(um)。
线性度:是探测器产生的信号最大剂量射线强度范围内与入射强度成正比的能力。
稳定性：是随着工作时间的增加探测处理信号产生一致性的能力，线性度和稳性直接影响探测器精度。
响应时间：是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间，它是影响独立采样的速率及数据质量的关键。由探测器预备时间，曝光待时间，曝光窗口，图像出时间四部分构成。
记忆效应：表示图像残留的参数，通常用两个参量来表示残留因子的变化。一次曝光20S后探测器短期记忆效应(Short-term memory effect 20s) 如：0.1% 一次曝光60S后探测器短期记忆效应(Short-term memory effect 60s) 如：0.02%。
